(CercleFinance.com) - Altatech, une filiale de Soitec, annonce le lancement d'Orion Lightspeed, son tout nouveau système d'inspection. Il est capable d'identifier à l'échelle nanoscopique la taille et l'emplacement de défauts à l'intérieur des matériaux semi-conducteurs composés et des substrats transparents.
Ce nouveau système aide à assurer le contrôle qualité des substrats avancés de grande valeur qui sont utilisés dans plusieurs marchés à forte croissance, dont ceux de la fabrication de LED à haute luminosité, des semi-conducteurs de puissance et des circuits intégrés 3D.
'Notre solution technologique offre aux clients un contrôle entièrement automatisé, qui est le plus précis pour prévoir et améliorer le rendement final des substrats, à un coût optimisé', a déclaré Jean-Luc Delcarri, directeur général d'Altatech, une filiale de Soitec.
Le système peut traiter les substrats d'une taille maximale de 300 mm. Sa capacité est supérieure à 85 plaques par heure pour les substrats de 200 mm et à 80 plaques par heure pour les substrats de 300 mm.
Plusieurs systèmes beta ont d'ores et déjà été installés chez plusieurs clients. Les premières unités de production devraient être disponibles en avril 2015.
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